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          產品詳情
          • 產品名稱:日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀

          • 產品型號:FT,MAXXI和X-Strata系列
          • 產品廠商:日立(Hitachi)
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          簡單介紹:
          上海鑄金分析儀器有限公司供應多種型號的日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀?;赬熒光的涂層厚度和材料分析是業內廣泛接受認可的分析方法,提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al到92U的固體或液體樣品。日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀方便快速進行質量控制和驗證測試,在幾秒內即可獲得準確的數據。
          詳情介紹:

          日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀|FT,MAXXIX-Strata系列

          日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀簡介:

          微束XRF涂層厚度和材料分析儀,方便快速進行質量控制和驗證測試,在幾秒內即可獲得準確的數據。

          基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業內廣泛接受認可的分析方法,日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀|FT,MAXXI和X-Strata系列提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al92U的固體或液體樣品。

          日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀應用:

          ■微焦斑 XRF 光譜儀應用于 PCB、半導體和電子行業

          PCB / PWB 表面處理

          控制表面處理工藝的能力決定線路板的品級、可靠性和壽命。根據IPC 4556IPC 4552A測量非電鍍鎳(EN,NiP)電鍍厚度和成分結構。日立分析儀器產品幫助您在嚴控的范圍內持續運營,確保高質量并避免昂貴的返工。

          ▲電力和電子組件的電鍍

          零件必須在規格范圍內被電鍍,以達到預期的電力、機械及環境性能。 開槽的X-StrataMAXXI系列產品 ,可以測量小的試片或連續帶狀樣品,從而達到 引線框架(引線框架)、連接器插針、線材和端子的上、中和預鍍層厚度的控制。

          IC 載板

          半導體器件越來越小巧而復雜,需要分析設備測量其在小區域上的薄膜。日立分析儀器的分析儀設計為可為客戶所需應用提供高準確性分析,及重復性好的數據。

          ▲服務電子制造過程 (EMS、ECS

          結合 采購和本地制造的組件及涉及產品的多個測試點,實現從進廠檢查到生產線流程控制,再到*終質量控制。日立分析儀器的微焦斑XRF產品幫助您在全生產鏈分析組件、焊料和*終產品,確保每個階段的質量。

          ▲光伏產品

          對可再生能源的需求不斷增加,而光伏在收集太陽能量方面扮演著重要的角色。有效收集這種能量的能力一部分取決于薄膜太陽能電池的質量。微束XRF可幫助保證這些電池鍍層的準確度和連貫性,從而確保*高效率。

          ▲受限材料和高可靠性篩查

          與復雜的全球供應鏈合作,驗證和檢驗從供應商處收到的材料至關重要。使用日立分析儀器的XRF技術,根據IEC 62321方法檢驗進貨是否符合RoHSELV等法規要求,確保高可靠性涂鍍層被應用于航空和軍事領域。


           

          X-Strata920
          正比計數器

          X-Strata920
          高分辨率 SDD

          FT110A
          正比計數器

          MAXXI 6
          高分辨率 SDD

          FT150高分辨率 SDD毛細管聚焦光學系統

          ENIG

          ★★☆

          ★★★

          ★★☆

          ★★★

          ★★★

          ENEPIG

          ★★☆

          ★★★

          ★★☆

          ★★★

          ★★★

          非電鍍鎳厚度和組成 (IPC 4556, IPC 4552)

          ★★☆

          ★★★

          ★★★

          非電鍍鎳厚度

          ★★☆

          ★★★

          ★★☆

          ★★★

          ★★★

          浸鍍銀

          ★★☆

          ★★★

          ★★☆

          ★★★

          ★★★

          浸鍍錫

          ★★☆

          ★★★

          ★★☆

          ★★★

          ★★★

          HASL

          ★★☆

          ★★★

          ★★☆

          ★★★

          ★★★

          無鉛焊料(如 SAC)

          ★☆☆

          ★★☆

          ★☆☆

          ★★★

          ★★★

          CIGS

          ★★☆

          ★★★

          ★★★

          CdTe

          ★★☆

          ★★★

          ★★★

          納米級薄膜分析

          ★★☆

          ★★★

          ★★★

          多層分析

          ★★☆

          ★★★

          ★★☆

          ★★★

          ★★★

          IEC 62321 RoHS 篩選

          ★★★

          檢測特征 < 50 μm 

          ★★★

          模式識別軟件

          ★★★

          ★★★

           

          ■微焦斑XRF光譜儀應用于金屬表面處理

          ▲耐腐蝕性

          檢驗所用涂層的厚度和化學性質,以確保產品在惡劣環境下的功能性和使用壽命。輕松處理小緊固件或大型組件。

          ▲耐磨性

          通過確保磨蝕環境中關鍵部件的涂層厚度和均勻度,預防產品故障。復雜的形狀、薄或厚的涂層和成品都可被測量。

          ▲裝飾性表面

          當目標是實現無瑕表面時,整個生產過程中的質量控制至關重要。通過日立分析儀器的多種測試設備,您可以可靠地檢測基材,中間層和頂層厚度。

          ▲耐高溫

          在極端條件下進行的零件的表面處理必須被控制在嚴格公差范圍內。確保符合涂鍍層規格、避免產品召回和潛在的災難性故障。

           

           

          X-Strata920正比計數器

          X-Strata920高分辨率SDD

          FT110A正比計數器

          MAXXI 6高分辨率SDD

          FT150 高分辨率SDD

          Zn / Fe, Fe 合金

          Cr / Fe, Fe 合金
          Ni / Fe, Fe
          合金

          ★★☆

          ★★★

          ★★☆

          ★★★

          ★★★

          ZnNi / Fe, Fe 合金
          ZnSn / Fe, Fe
          合金

          ★★☆

          ★★★

          ★★☆

          ★★★

          ★★★

          NiP / Fe
          NiP / Cu
          NiP / Al

          ★★☆
          (
          僅厚度)

          ★★☆
          (
          厚度和成分)

          ★★☆
          (
          僅厚度)

          ★★★
          (
          厚度和成分)

          ★★★
          (
          厚度和成分)

          Ag / Cu
          Sn / Cu 

          ★★☆

          ★★★

          ★★☆

          ★★★

          ★★★

          Cr / Ni / Cu / ABS

          ★★☆

          ★★★

          ★★☆

          ★★★

          ★★★

          Au / Pd / Ni /CuZn

          ★★☆

          ★★★

          ★★☆

          ★★★

          ★★★

          WC / Fe, Fe 合金
          TiN / Fe, Fe
          合金

          ★★☆

          ★★★

          ★★☆

          ★★★

          ★★★

          納米級薄膜分析

          ★★☆

          ★★★

          ★★★

          多層分析

          ★★☆

          ★★★

          ★★☆

          ★★★

          ★★★

          IEC 62321 RoHS 篩選

          ★★★

          DIM可變焦測試系統

           

          ★★★

           

          模式識別軟件

          ★★★

           

          日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀產品型號:

          1、X-Strata920

          正比計數器或高分辨率 SDD

          →元素范圍:鈦 - 鈾,或鋁 - 鈾(SDD

          →樣品艙設計:開槽式

          XY 軸樣品臺選擇: 固定臺、加深臺、自動臺

          →*大樣品尺寸:270 x 500 x 150毫米

          →*大數量準直器:6

          →濾光片:1

          →*小的準直器:0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)

          SmartLink 軟件

          2、FT110A

          ¨正比計數器系統

          ¨元素范圍:鈦 -

          ¨樣品艙設計:開閉式或開槽式

          ¨XY 軸樣品臺選擇: 開閉式固定臺、開閉式程控臺、開槽式固定臺、開槽式程控臺

          ¨*大樣品尺寸:500 x 400 x 150 毫米

          ¨*大數量準直器:4

          ¨濾光片:1

          ¨*小的準直器:0.05 毫米

          ¨X-ray Station 軟件

          3、MAXXI 6

          ?高分辨率 SDD

          ?元素范圍: 鋁 -

          ?樣品艙設計:開槽式

          ?XY 軸樣品臺選擇:固定臺、自動臺

          ?*大樣品尺寸:500 x 450 x 170毫米

          ?*大數量的準直器:8

          ?濾光片:5

          ?*小的準直器: 0.05 x 0.05毫米(2 x 2 mil)

          ?SmartLink 軟件

          4、FT150

          ?高分辨率 SDD

          ?元素范圍: 鋁 -

          ?樣品艙設計:開閉式

          ?XY 軸樣品臺選擇:自動臺、晶片樣品臺

          ?*大樣品尺寸:600 x 600 x 20 毫米

          ?濾光片:1 3

          ?毛細聚焦管 < 20 μm

          ?XRF控制軟件

           


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          2.如有必要,請您留下您的詳細聯系方式!

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